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多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種高分辨率的成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)和材料科學(xué)領(lǐng)域。這種顯微鏡可以對(duì)表面形貌進(jìn)行三維成像，同時(shí)還可以通過(guò)多種模式進(jìn)行材料的物理和化學(xué)性質(zhì)研究。多功能原子力顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)：1.光學(xué)系統(tǒng)：用于激光的發(fā)射和探測(cè)，通常包含激光、分束器和光電二極管，可以有效地傳遞信號(hào)。2.探針支撐系統(tǒng)：包括......

多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope,SPM）是一類(lèi)利用尖銳探針與樣品表面之間的相互作用進(jìn)行成像和測(cè)量的高分辨率顯微鏡。SPM能夠在原子級(jí)別上觀察物質(zhì)表面，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。多功能掃描探針顯微鏡的工作原理：1.接觸力（ContactForce）：在探針與樣品直......

多功能原子力顯微鏡是一種具靈活性和功能性的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對(duì)材料的表面形貌、力學(xué)性質(zhì)、電學(xué)性質(zhì)、磁性等多種物理化學(xué)性質(zhì)進(jìn)行綜合分析。AFM不僅在科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用，也在材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域找到了廣泛的應(yīng)用。AFM的工作原理基于探針與樣品表面相互作用的力。當(dāng)探針接近樣品表面時(shí)，它們之間......

多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是一種高分辨率的成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物和材料科學(xué)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SPM通過(guò)使用微小的探針與樣品表面相互作用來(lái)獲得圖像和其他物理性質(zhì)。這種方法使其能夠在原子和分子尺度上進(jìn)行觀察，極大地?cái)U(kuò)展了科學(xué)研究的視野。多功能掃描......